Practical Electron Microscopy of Lattice Defects

Practical Electron Microscopy of Lattice Defects
-0 %
Besorgungstitel - wird vorgemerkt | Lieferzeit: Besorgungstitel - Lieferbar innerhalb von 10 Werktagen I

Unser bisheriger Preis:ORGPRICE: 111,50 €

Jetzt 111,49 €*

Alle Preise inkl. MwSt. | Versandkostenfrei
Artikel-Nr:
9789811234699
Veröffentl:
2021
Erscheinungsdatum:
26.04.2021
Seiten:
308
Autor:
Hiroyasu Saka
Gewicht:
604 g
Format:
235x157x21 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:

This unique reference text provides those who are studying crystal lattice defects using a transmission electron microscope (TEM) with a basic knowledge of transmission electron microscopy. As it has been written for beginners, the principles of both transmission electron microscopy and crystallography have been clearly and simply explained, with the use of many figures and photographs to aid understanding. Mathematics is avoided where possible, and problems and exercises are amply provided.

Kunden Rezensionen

Zu diesem Artikel ist noch keine Rezension vorhanden.
Helfen sie anderen Besuchern und verfassen Sie selbst eine Rezension.