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Surfaces and Interfaces of Electronic Materials
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Fortgeschrittene
Lieferbar in 5-7 Tagen | Lieferzeit: Kurzfristig nicht lieferbar -Lieferbar in 5-7 Tagen I
Artikel-Nr:
9783527409150
Veröffentl:
2010
Seiten:
570
Autor:
Leonard J. Brillson
Gewicht:
1228 g
Format:
246x177x34 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:
Leonard Brillson is a professor of Electrical & Computer Engineering, Physics, and Center for Materials Research Scholar at The Ohio State University in Columbus, OH, USA. Prior to that, he was director of Xerox Corporation's Materials Research Laboratory and had responsibility for Xerox's long-range physical science and technology programs at the company's research headquarters in Rochester, N.Y. He is a Fellow of IEEE, AAAS, AVS, and APS, and a former Governing Board member of the American Institute of Physics. He has authored over 300 scientific publications and received numerous scientific awards, including the AVS Gaede-Langmuir Award.
Dieses Lehrbuch für Fortgeschrittene behandelt die geometrische, chemische und Elektronenstruktur elektronischer Materialien und ihre Anwendung auf Bauelemente mit Halbleiter-Grenzflächen, Metall-Halbleiter-Grenzflächen und Halbleiter-Heterokontakten. Ausgehend von der theoretischen und technischen Erläuterung üblicher Messverfahren wird ein breites Spektrum von Methoden zur Charakterisierung elektronischer, optischer, chemischer und struktureller Eigenschaften vorgestellt, die sich nicht nur für Halbleiter, sondern auch für Isolatoren, Nanostrukturen und organische Werkstoffe eignen. Großzügige Literaturhinweise erleichtern, wenn gewünscht, das tiefere Einarbeiten. Mit zahlreichen Beispielen und Übungsaufgaben!
An advanced textbook presenting the current state of electronics technology relying on surface and interface properties. Covers the fundamentals, measurements, characterization, and control techniques. With extensive reading lists, citations, and end-of-chapter problem sets.
Preface1. Introduction2. Historical Background3. Electrical Measurements4. Interface states5. Ultrahigh vacuum technology6. Surface and interface analysis7. Photoemission spectroscopy8. Photoemission with soft X-rays9. Particle-solid scattering10. Electron energy loss spectroscopy11. Rutherford backscattering spectrometry12. Secondary ion mass spectrometry13. Electron diffraction14. Scanning tunneling microscopy15. Optical spectroscopies16. Cathodoluminescence spectroscopy17. Electronic Materials' Surfaces18. Adsorbates on Electronic Materials' Surfaces19. Adsorbate-Semiconductor Sensors20. Heterojunctions21. Metals on semiconductors22. The future of interfacesAppendices