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Principles of Testing Electronic Systems
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Artikel-Nr:
9780471319313
Veröffentl:
2000
Erscheinungsdatum:
25.07.2000
Seiten:
440
Autor:
Samiha Mourad
Gewicht:
830 g
Format:
240x161x28 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:
SAMIHA MOURAD, PhD, is Professor of Electrical Engineering at Santa Clara University, Santa Clara, California. YERVANT ZORIAN, PhD, is Chief Technology Advisor at Logic Vision, Inc., San Jose, California.
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar. (07/00)
Digitale Testverfahren spielen eine entscheidende Rolle in elektronischen Systemen, zum Beispiel als eingebaute Prüfroutinen in intergrierten Schaltkreisen. Dieses Buch bietet einen anschaulichen, wenig theorielastigen Einstieg in das Gebiet. Nützlich ist dabei auch eine sorgfältig recherchierte Liste weiterführender Literatur.
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar.
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar.
DESIGN AND TEST.
Overview of Testing.
Defects, Failures, and Faults.
Design Representation.
VLSI Design Flow.
TEST FLOW.
Role of Simulation in Testing.
Automatic Test Pattern Generation.
Current Testing.
DESIGN FOR TESTABILITY.
Ad Hoc Test Techniques.
Scan-Path Design.
Boundary-Scan Testing.
Built-in Self-Test.
SPECIAL STRUCTURES.
Memory Testing.
Testing FPGAs and Microprocessors.
ADVANCED TOPICS.
Synthesis for Testability.
Testing SOCs.
Appendices.
Index.
Overview of Testing.
Defects, Failures, and Faults.
Design Representation.
VLSI Design Flow.
TEST FLOW.
Role of Simulation in Testing.
Automatic Test Pattern Generation.
Current Testing.
DESIGN FOR TESTABILITY.
Ad Hoc Test Techniques.
Scan-Path Design.
Boundary-Scan Testing.
Built-in Self-Test.
SPECIAL STRUCTURES.
Memory Testing.
Testing FPGAs and Microprocessors.
ADVANCED TOPICS.
Synthesis for Testability.
Testing SOCs.
Appendices.
Index.
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